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成像型穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng) 詳細(xì)摘要: 成像型穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng)是Hinds公司研發(fā)的一款高速高精度穆勒矩陣測(cè)量系統(tǒng),在不到一秒內(nèi)即可實(shí)時(shí)測(cè)得穆勒矩陣16組參數(shù)或者其他樣品完整偏振特性。由Hinds公司...
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2019-04-09 參考價(jià): 面議 在線留言 -
光腔衰蕩光譜測(cè)量系統(tǒng) 詳細(xì)摘要: 光腔衰蕩光譜測(cè)量系統(tǒng):光腔衰蕩光譜方法(CRDS, Cavity Ring-Down Spectroscopy)是一種基于高精細(xì)度諧振腔的高靈敏度探測(cè)技術(shù),主要...
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2019-04-09 參考價(jià): 面議 在線留言 -
高精度MTF測(cè)量?jī)x 詳細(xì)摘要: 高精度MTF測(cè)量?jī)x可以提供全面的鏡頭測(cè)試:軸上MTF,軸外MTF,波前像差,EFL,澤尼克像差(Zernike aberrations)及多波長(zhǎng)(250-400...
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2019-04-09 參考價(jià): 面議 在線留言 -
激光干涉膜厚測(cè)量?jī)x 詳細(xì)摘要: 激光干涉膜厚測(cè)量?jī)x是基于Nanobase公司*的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀,是一種非接觸式、無(wú)損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量設(shè)備。Xper-IP可用于測(cè)量...
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2019-04-09 參考價(jià): 面議 在線留言 -
高分辨率激光干涉儀 詳細(xì)摘要: 高分辨率激光干涉儀是一款便攜式、高靈敏度、高精度的波前分析儀。超分辨剪切干涉儀基于波前分析的四波剪切干涉技術(shù),與傳統(tǒng)干涉儀相比較具有結(jié)構(gòu)緊湊,使用方便,無(wú)需標(biāo)準(zhǔn)...
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光伏硅錠應(yīng)力測(cè)量?jī)x 詳細(xì)摘要: 光伏硅錠應(yīng)力測(cè)量?jī)x:在光伏行業(yè)/半導(dǎo)體行業(yè)中,硅片的制作中,如果硅錠在生長(zhǎng)中有著很強(qiáng)的殘余應(yīng)力,切片時(shí)會(huì)很容易造成碎裂,所以對(duì)硅錠中應(yīng)力參與的檢測(cè)對(duì)控制后續(xù)產(chǎn)品...
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Hinds液晶面板應(yīng)力分布測(cè)量系統(tǒng) 詳細(xì)摘要: Hinds液晶面板應(yīng)力分布測(cè)量系統(tǒng)于LED液晶玻璃基板的應(yīng)力分布測(cè)量。產(chǎn)品測(cè)量精度*(0.005 nm),且特制平臺(tái)掃描,于LED液晶面板尺寸(Exicor G...
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非球面透鏡應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng) 詳細(xì)摘要: 非球面透鏡應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)利用光彈調(diào)制器技術(shù),Hinds 公司的應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)可以在深紫外(193nm)波段進(jìn)行應(yīng)力雙折射探測(cè)。針對(duì)特定材料制作(氟化鈣)...
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2019-04-09 參考價(jià): 面議 在線留言 -
超精密光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備 詳細(xì)摘要: 超精密光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品。該應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)既可作為實(shí)驗(yàn)室科研探索測(cè)量光學(xué)組件應(yīng)力分布測(cè)量,...
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:上海市 更新時(shí)間:2019-04-09 參考價(jià): 面議 在線留言 -
二維應(yīng)力成像儀 詳細(xì)摘要: 二維應(yīng)力成像儀是一款用于定量測(cè)量透明體內(nèi)延遲量的應(yīng)變和雙折射以及慢軸的方向的二維裝置。
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